Fault detection / edited by Wei Zhang
Suradnik
Impresum
Rijeka: InTech, 2010.
Mjesto izdavanja
Materijalni opis
512 str.
Izdanje
1st ed
Jezik
Nakladnik
Način izrade datoteke
Format
NSK-ID
1077075
DOI
10.5772/213
ISBN
978-953-51-5896-7 (PDF) ; 978-953-307-037-7